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顯微級高精度雙折射檢測！Photonic Lattice WPA-micro 二維雙折射評價系統
Photonic Lattice 推出的WPA-micro 二維雙折射評價系統，是專為顯微視野下的微小樣品、結晶材料設計的高精度光學檢測設備，通過三波長測量技術，將位相差測量范圍拓展至 0~3500nm，可實現非接觸式、無損傷的雙折射分布、結晶配向與應力可視化分析，適配微觀材料的研發與質控需求。
該系統可搭載奧林巴斯或尼康品牌的顯微鏡，在顯微視野下完成屈折 / 位相差分布測量，支持對金屬等不透明樣品進行反射評估，實現晶體取向分布的數據化分析，直觀呈現微觀結構的應力與配向狀態。系統搭載 11 萬像素復屈折面素傳感器，以 523nm、543nm、575nm 三波長精準測量，位相差重復再現精度 σ＜0.1nm，軸方位精度 σ＜0.1°（位相差＞10nm 時），同時支持應力值換算，為微觀材料的性能分析提供精準數據支撐。
設備配套 WPA-View 專業分析軟件，可生成 2D/3D 應力云圖、結晶配向熱力圖，清晰展示樣品的應力集中區域與結晶分布。非接觸式測量無需樣品預處理，不損傷被測物，適配薄膜、透明樹脂、金屬、晶體等各類材料的微觀檢測需求，是材料研發、科研實驗、精密質控的核心光學檢測工具。
核心優勢
? 顯微級精準測量：適配顯微鏡視野，可測 80×110μm~2.0×2.7mm 微小樣品，覆蓋微觀檢測需求? 超寬測量范圍：位相差 0~3500nm，覆蓋從低應力到高應力全場景? 超高測量精度：位相差重復精度＜0.1nm，軸方位精度＜0.1°，數據精準可靠? 全類型樣品適配：支持透明樣品透射檢測、金屬等不透明樣品反射檢測，適配多元場景? 結晶配向可視化：可數據化分析晶體取向分布，助力材料微觀結構研究? 操作便捷高效：配套專業分析軟件，自動化測量流程，快速出結果
核心參數
出力項目：位相差 (nm)、位相軸方位 (°)，支持應力值換算 (Mpa)
測定范圍：0~3500nm（水晶評價時）
重復再現：位相差 σ＜0.1nm，軸方位 σ＜0.1°（位相差＞10nm 時）
復屈折畫素數：384×288（≈11 萬）像素
測定波長：523nm、543nm、575nm
本體尺寸：270×500×615 毫米，重量約 20 公斤
測定視野尺寸：約 80×110μm~ 約 2.0×2.7mm，支持 x2、x5、x10、x20、x50 物鏡
接口：GigE（相機信號）、RS-232C（電機控制）
電源：交流 100-240 伏
適用場景
材料研發：晶體、薄膜、透明樹脂等微觀材料的應力分布與結晶配向分析
科研實驗：金屬、復合材料等不透明樣品的反射式雙折射檢測
精密質控：微小光學元件、半導體材料的微觀應力與缺陷檢測
地質礦物：礦物晶體的取向分布與結構分析
其他領域：各類微觀樣品的非接觸式雙折射與應力檢測
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