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高精度二維雙折射評價系統 Photonic Lattice WPA-200 系列
Photonic Lattice 推出的WPA-200 系列二維雙折射評價系統，是一款專為透明材料、薄膜、樹脂制品設計的高精度光學檢測設備，通過三波長測量技術，將位相差測量范圍拓展至 0~3500nm，可實現非接觸式、無損傷的雙折射分布與應力可視化分析，廣泛應用于材料研發、質量管控等領域。
該系列包含 WPA-200、WPA-200-L、WPA-200-XL 三款型號，覆蓋從顯微鏡級到約 50cm 大尺寸樣品的全場景測量需求，可根據被測物尺寸靈活選型。系統搭載 11 萬像素復屈折面素傳感器，以 523nm、543nm、575nm 三波長精準測量，位相差重復再現精度 σ＜0.1nm，軸方位精度 σ＜0.1°（位相差＞10nm 時），同時支持應力值換算，直觀呈現材料內部應力分布，為產品性能優化提供數據支撐。
設備操作便捷，配套 WPA-View 專業分析軟件，可生成 2D/3D 應力云圖、位相差分布熱力圖，清晰展示膠片、儀表板、光學元件等樣品的應力集中區域。非接觸式測量無需樣品預處理，不損傷被測物，適配薄膜、透明樹脂、光學玻璃、液晶面板等各類透明材料的檢測需求，是材料研發、產線質控的核心光學檢測工具。
核心優勢
? 超寬測量范圍：位相差 0~3500nm，覆蓋從低應力到高應力全場景? 超高測量精度：位相差重復精度＜0.1nm，軸方位精度＜0.1°，數據精準可靠? 全尺寸樣品適配：三款型號覆蓋微觀到宏觀，最大支持約 50cm 大尺寸樣品? 應力可視化分析：配套專業軟件，生成直觀應力云圖，支持應力值換算? 非接觸無損傷檢測：無需樣品預處理，不損傷被測物，適配各類透明材料? 操作便捷高效：自動化測量流程，快速出結果，提升檢測效率
型號核心參數
WPA-200：本體尺寸 270×337× 最大 631mm，重量約 13kg，標準鏡頭視野約 27×36mm~100×133mm，支持選配變焦鏡頭，適配中小型樣品檢測
WPA-200-L：本體尺寸 430×487× 最大 977mm，重量約 23kg，標準鏡頭視野約 33×44mm~240×320mm，支持選配變焦鏡頭，適配中大型樣品檢測
WPA-200-XL：本體尺寸 650×650× 最大 1930mm，重量約 47kg，標準鏡頭視野約 218×290mm~360×480mm，不可安裝變焦鏡頭，適配大尺寸樣品檢測
三款型號均保持 0~3500nm 的測量范圍與同等高精度，滿足不同場景的檢測需求。
適用場景
材料研發：透明樹脂、薄膜、光學玻璃等材料的應力分布分析
工業質控：膠片、儀表板、注塑件等產品的內應力檢測與良率管控
光學元件：透鏡、棱鏡、液晶面板等光學器件的雙折射評價
科研實驗：高分子材料、復合材料的力學性能與應力研究
其他領域：玻璃制品、透明包裝等產品的應力缺陷檢測
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