日本 FLOVEL 雙面檢測顯微鏡系統
日本 FLOVEL 雙面檢測顯微鏡系統
日本 FLOVEL TOMOS-50R1 是專為電子元器件、光學器件打造的廣視野雙面檢測顯微鏡系統。產品采用低倍顯微鏡與環形照明結合的設計,在 1 倍視野下可實現約 9mm×7mm 的大視野雙面同步拍攝,一次操作完成工件正反兩面的全貌檢測,大幅提升檢測效率,適合批量電子元器件的外觀與位置檢測。
系統搭載雙 200 萬像素相機(彩色 / 黑白可選),支持環形照明與同軸照明同時安裝,可適配 10 倍、20 倍等多倍率物鏡,滿足不同檢測場景的成像需求;內置光軸補償、倍率補償、相機角度補償等功能,精準校正雙面檢測誤差,保障測量結果的可靠性。XY 軸 ±10mm 行程、最大 30mm 調焦范圍,適配不同尺寸工件的檢測需求。
設備功能豐富,可完成電子元器件表面瑕疵檢查、印刷物 / PCB 對齊標記偏移測量、LED 芯片 / 透鏡位置偏移檢測等,支持雙面圖像合成顯示,直觀呈現正反面對位情況;同時提供軟件、樣品夾定制服務,可根據工件形狀、材料定制專屬檢測方案,適配特殊工件的檢測需求。
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