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Si 晶片內(nèi)部檢查檢測用近紅外鹵素光源SIS-150 -NIR介紹
Si 晶片內(nèi)部檢查檢測用近紅外鹵素光源SIS-150 -NIR介紹
SIS-150 (-NIR / -AIR)
近 紅外線照射裝置
在近紅外線區(qū)域具有峰值的光纖光源裝置。
通過使用專用光學(xué)系統(tǒng)和對近紅外區(qū)域具有靈敏度的相機(jī)，它
非常適合非破壞性檢查，例如 Si 晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
專用選件
* 可加裝波長選擇帶通濾波器
* 可加裝機(jī)械快門 * 可加裝
256級(jí)數(shù)字調(diào)光板
* 模數(shù)調(diào)光板（控制電壓（0-5V））
* 并聯(lián)調(diào)光板（并行8bit數(shù)字信號(hào)))
* 串口調(diào)光板（RS232C串口8bit數(shù)字信號(hào)）
| 模型 | SIS-150-NIR | SIS-150-AIR |
|---|---|---|
| 額定輸入電壓 | AC100-240V | AC100-240V |
| 額定輸入頻率 | 50 / 60Hz | 50 / 60Hz |
| 照明方式 | 直流點(diǎn)燈方式 | 直流點(diǎn)燈方式 |
| 光強(qiáng)調(diào)節(jié) | 可變輸出電壓 可變 電壓范圍：DC2V 至 15V 可變光強(qiáng)度范圍：0.1% 至 100% | 可變輸出電壓 可變 電壓范圍：DC2V 至 15V 可變光強(qiáng)度范圍：0.1% 至 100% |
| 保護(hù)功能 | 過流保護(hù)電路（重新上電恢復(fù)） 過熱保護(hù)電路（自動(dòng)恢復(fù)） | 過流保護(hù)電路（重新上電恢復(fù)） 過熱保護(hù)電路（自動(dòng)恢復(fù)） |
| 冷卻方式 | 強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻 | 強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻 |
| 工作溫度/濕度 | 0℃-40℃/20%-80%RH（但無冷凝） | 0℃-40℃/20%-80%RH（但無冷凝） |
| 功能 | 燈斷信號(hào)輸出：集電極/發(fā)射極開路 模擬信號(hào)電壓調(diào)光：DC0-5V輸入 遠(yuǎn)程燈ON/OFF：通過施加DC5V關(guān)閉 | 燈斷信號(hào)輸出：集電極/發(fā)射極開路 模擬信號(hào)電壓調(diào)光：DC0-5V輸入 遠(yuǎn)程燈ON/OFF：通過施加DC5V關(guān)閉 |
| 外形尺寸 | W124 x H165 x D224 mm（尺寸不包括突出部分） | W124 x H165 x D224 mm（尺寸不包括突出部分） |
| 重量 | 約2.7公斤 | 約2.7公斤 |
| 照射波長 | 400-1100nm | 400-1700nm |
| 峰值波長 | 800nm | 1000nm |
| 光導(dǎo) | 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格 | 專用耐熱光導(dǎo) |
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